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薄層色譜掃描儀計算方程

更新時間:2019-06-26      點(diǎn)擊次數(shù):1872
   薄層色譜掃描儀計算方程
 
  用于定量的薄層色譜儀稱為薄層色譜掃描儀,或薄層色譜光密度計,用這種儀器對薄層上被分離的物質(zhì)進(jìn)行直接定量的方法稱薄層色譜掃描法。目前各國生產(chǎn)的薄層色譜儀規(guī)格不同,性能各異,但其基本測定原理是一樣的,即用一束長寬可以調(diào)節(jié)的一定波長、一定強(qiáng)度的光照射到薄層斑點(diǎn)上進(jìn)行整個斑點(diǎn)的掃描,用儀器測量通過斑點(diǎn)或被斑點(diǎn)反射的光束強(qiáng)度的變化從而達(dá)到定量的目的。
 
  但是薄層是由許多細(xì)小顆粒組成的半透明物體,光照射到薄層表面,除透射光、反射光外,還有相當(dāng)多的散射光,因此與光照透明溶液不同,樣品量與測得值之間呈非線性關(guān)系,特別在高濃度區(qū),這樣就給定量工作帶來困難,為此有以下三種途徑來解決薄層上的定量間題。薄層色譜掃描儀具有線性化器,其工作原量即根據(jù)Kubelka-Mimk方程式用電路系統(tǒng)將彎曲的曲線校正為直線,用校正后的直線進(jìn)行定量。
 
  a.選取曲線中的直線部分用于定量分析在低濃度范圍內(nèi),樣品量與測得值間可存在線性關(guān)系,此法簡便,也是在沒有線性化功能的薄層色譜儀上常用的方法,但由于線性濃度范圍有限。
 
  b.光照到散射物質(zhì)表面,光的行為比較復(fù)雜,Kubelka及Munk從理論上推導(dǎo)出簡化的方程式,現(xiàn)應(yīng)用于薄層掃描。從實(shí)用角度解釋光照到薄層上的變化情況。
 
  c.利用非線性方程定量
 
  利用計算機(jī)先求出非線性方程,然后在測定樣品時將測定值輸入計算機(jī),由此方程求出樣品濃度。根據(jù)此原理進(jìn)行測定,并認(rèn)為這種方法更為合理,測定值更準(zhǔn)確可靠。
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